منتجات

اختبار نسبة انقراض الاستقطاب MT FA

لكل نطاق ديناميكي: 0-50 ديسيبل
دعم واجهة RS232 /RJ45
يدعم تشغيل الكمبيوتر المضيف
دعم لاختبار IL
اختبار زاوية محور الألياف الضوئية مع الاستقطاب

تم تصميم جهاز اختبار نسبة انقراض الاستقطاب MT FA لفحص مكونات PM المتنوعة. ويغطي نطاقات الطول الموجي العاملة من 600-1100 نانومتر و1275-1635 نانومتر، وهو قادر على إجراء اختبار PER لألياف PM ومكونات PM، والقياس الزاوي لمحور الاستقطاب، بالإضافة إلى التحقق من العملية أثناء اقتران المكونات.

من خلال اعتماد تصميم مسار بصري مصغر، يعمل جهاز اختبار نسبة انقراض الاستقطاب MT FA على تحسين الحصول على الإشارة الضوئية الخافتة لتوفير قياس دقيق لكل من أجهزة PER العالية والمنخفضة. من خلال الاستفادة من إخراج البيانات-عالية السرعة، فإنه يوفر-تعليقات على البيانات في الوقت الفعلي في اقتران الإنتاج الضخم-لدعم ضبط الحلقة-المغلقة على خطوط الإنتاج. يتوفر جهاز اختبار نسبة انقراض الاستقطاب في ثلاثة تكوينات: الاقتصاد، وMT-FA، والأداء العالي لاستيعاب تطبيقات الاختبار المتنوعة.

الخصائص الفيزيائية	المعلمة
نطاق الطول الموجي	600 ~ 1100 نانومتر، 1275 ~ 1635 نانومتر
لكل النطاق الديناميكي	30 ديسيبل ~ 50 ديسيبل
نسبة القرار لكل	<10dB: 0.001dB
نسبة القرار لكل	أكبر من أو يساوي 10 ديسيبل: 0.01 ديسيبل
تعريف لكل	PER أقل من أو يساوي 2 ديسيبل: أقل من أو يساوي +0. 1 ديسيبل
	لكل<30dB: < 0.3dB
	أكبر من أو يساوي 30 ديسيبل:<+1.0dB
قرار زاوية الاستقطاب	0.11 درجة
زاوية دقة الاستقطاب	<>
سرعة القياس	25 مللي ثانية
نوع الموصل	FC/PC (يدعم أيضًا SC/LC، محول الألياف العارية الاختياري)
واجهة الاتصالات	RS232 / RJ45
مدخلات طاقة التيار المتردد	220 فولت، 50 هرتز
وقت تسخين المحرك	15 دقيقة
درجة حرارة العمل	+10~+40 درجة
درجة حرارة التخزين	-15~+70 درجة
وزن	4 كجم
حجم المظهر	235104300 مللي متر (مع الأرجل)